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遠場測試技術雖然早成熟，但是由于其對大測試場地和電磁環(huán)境的特殊要求，測試非常不方便，人們一方面用緊縮場產(chǎn)生平面波來模擬無線長度的場地，另一方面則是用近場測試代替遠場測試。

近場測量的原理是在一個面上采集待測天線近場數(shù)據(jù)，然后通過近遠場變換算法，得到待測天線遠場輻射特性。根據(jù)取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術，平面近場測量使用為普遍。近場測量的原始數(shù)據(jù)需要包含幅度相位信息，儀器設備主要是矢量網(wǎng)絡分析儀，或測量接收機、信號源等組成。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

近場掃描技術的優(yōu)點如下：

(1) 理論嚴格:包含探頭特性的全部數(shù)據(jù)都被表示為麥克斯韋方程解的線性組合,而未引入小角度,標量繞射等近似解。

(2) 精度高:消除了遠場測量的近距效應,各種誤差源可以檢測并補償,信噪比高,重復性好。

(3) 信息量大:一次掃描可獲得整個空間全部信息,如幅度、相位、極化、三維方向圖等。

(4) 診斷功能:通過重建口徑場,可以發(fā)現(xiàn)常規(guī)遠場測量難以發(fā)現(xiàn)的故障。對相控陣天線，通過診斷測試對AUT口徑面存在的失效、超差、誤碼等進行識別、標定，為更換器件修正通道誤差提供依據(jù)。

基于VNA的測試系統(tǒng)為測量無線通信和航空/系統(tǒng)中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統(tǒng)VNA相比，Agilent PNA-X微波網(wǎng)絡分析儀的先進體系結構具有更大的靈活性，使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內(nèi)主要的增加項是第二個信號源和內(nèi)部寬帶信號合路器，從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數(shù)、壓縮和諧波的傳統(tǒng)單信號源測量之外，兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅動的變化、熱態(tài)S參數(shù)和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。